透射电子显微镜transmission electron microscope,TEM

利用高速运动的电子束为照明源，以电磁透镜成像，并配以特殊机械装置和高真空技术的精密电子光学仪器。它是在一个真空系统中，由电子枪发射电子束，穿过被检样品，经电子透镜聚焦放大，在荧光屏上显示放大的像。由电子光学系统（即镜筒）、真空系统、电器系统及辅助系统等组成。目前透射电子显微镜直接放大倍数可达80万倍左右，分辨率为0.20 nm，可用以观察病毒、单个分子以及金属材料的晶格结构等。透射电镜主要通过超薄切片观察物体内部结构，也可通过其他制样方法，观察物体内部或表面结构。