SIBTEST方法simultaneous item bias procedure

现代教育测量方法之一。是检测“项目功能差异”(DIF)的一种方法。由Shealy和Stout(1993)提出的一种新方法。在概念上与“STND方法”十分相似，其DIF指标β为：

(P_S为第S能力水平组中答对该项目的人数比率；Y-_RS、Y-_FS分别是第S能力水平组中的参照组和目标组在这题上的平均得分。)SIBTEST还包括一个显著性检验：Z=β/σ(β)来检验项目的DIF是否显著。SIBTEST方法的最大的创新是用潜在能力作为匹配变量，它用回归矫正(regression-based correction)方法来估计匹配分数。另外，SIBTEST设计了一个叠代程序，把被怀疑有DIF的项目排除在匹配标准之外。起初，SIBTEST把所有的项目都作为匹配标准，对每个项目逐项检测，把有DIF的项目排除在匹配标准之外，这样不断反复，直到形成一个不含DIF项目的“有效测验”。这个“有效测验”就可作为最终的匹配标准。SIBTEST方法的另一个革新之处，是可以对一批项目同时进行DIF检测。有些项目（如一篇阅读理解文章后面的五个题目）单独进行DIF分析时，DIF值都不大，但同时对这些项目进行分析，则DIF值马上增大（说明这篇文章对两组学生的功能不一致），这称为“放大”(amplification)。而有些项目单独分析时，DIF值很大，但在同时分析DIF值被综合减小了，这些项目在两组学生上的功能差异相互抵消，这称为“收缩”(cancellation)。